« La thermographie infrarouge, vers un contrôle industriel 4.0 des panneaux sandwich » qui sera présentée par :
- Xavier DUPONT, chef de projet R&T, Safran
- Samuel MAILLARD, #safran
- Alexis Huck, Ingenieur de recherche - Signal, Image, Data, Machine Learning, SAFRAN

Pitch :
Historiquement, les panneaux sandwich aéronautiques sont généralement inspectés en ultrasons jet d’eau en transmission.
Dans le cadre de ses activités sur les matériaux composites, Safran s’est intéressé à des méthodes alternatives de contrôle non destructif et a retenu le contrôle par thermographie infrarouge.
Après avoir décrit le produit (panneaux sandwich de grandes dimensions et de géométrie complexe) et le procédé actuel (ultrasons), le principe de la thermographie, en particulier par excitation Flash en réflexion, sera brièvement expliqué.
Au-delà-du caractère novateur d’une telle application industrielle, le procédé complet a été pensé autour de la continuité numérique, de l’acquisition à l’aide à la sanction, pour s’inscrire dans l’Usine du Futur.
Les différentes phases du projet, de la R&D jusqu’à l’industrialisation et la qualification, seront discutées, en s’appuyant sur quelques illustrations. La conclusion abordera les perspectives actuellement envisagées autour du contrôle par thermographie chez Safran.